18. 量測半質層時，放置濾片的最好位置應為：
(A) 放置在進偵檢器前
(B) 放置在 X 光窗口與偵檢器間正㆗點位置
(C) 放置在近 X 光管窗口前
(D) 隨操作電壓而調整放置位置

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