36. 關於座標量測儀 ( CMM ) 之特性,下列敘述何者不正確?
(A) 可進行三次元量測工作
(B) 各類探頭均須與工件接觸始可量測
(C) 可用來進行齒形的量測
(D) 軸上的線性量測系統常用光學尺

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