阿摩線上測驗
題組內容
三、X 光電子能譜儀為表面分析的有效工具，可以偵測樣品表面奈米等級厚
度內的訊號，請說明：（每小題 10 分，共 20 分）
(一)此一儀器的表面取樣深度達於奈米尺度的原理。
詳解 (共 1 筆)
一起撐住一起上榜
詳解 #6509048
三、X 光電子能譜（XPS）分析（共2...
(共 220 字，隱藏中）
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