題組內容

五、X-光繞射技術常被用來鑑定材料之結構。使用波長（λ）為 0.154 nm之X光為光源，對 某一試樣進行分析，在角度（θ）為 20o 處可發現繞射峰。

【題組】⑴請問形成此繞射峰（ θ = 20o ）之平面間之垂直距離（d）為何？

詳解 (共 1 筆)

KAI
KAI
詳解 #4179035
2020/07/28
2dsin∅=波長 ∅=20o sin...
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