題組內容

五、Shewhart Attribute 管制圖： 
(A)令 Xi =1，若晶片是破片；否則定義 Xi = 0。Xi ~ Bernoulli 分配。 
(B)令 Zi 為晶片 i 上的總缺點數。Zi ~Poisson 分配。 假設每個時間點檢查 n=3 個晶片，將下列 4 個計數管制圖的 y 軸的統計 量寫成上述 Xi 或 Zi 的函數。 （每小題 5 分，共 20 分）

⑵ p Chart