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國營事業◆1.政府採購法規 2.會計審計法規

國營事業◆1.中級會計學 2.財務管理

1.統計學 2.巨量資料概論

115年 - [無官方正解]115 國立清華大學_碩士班入學考試試題_生命科學暨醫學院甲組(生物與醫學科學組)：分子生物學#142697(35題)

115年 - [無官方正解]115 國立清華大學_碩士班考試入試題_生命科學暨醫學院_甲組（生物與醫學科學組）：微生物學#142684(36題)

115年 - 台灣金融研訓院第 49 期銀行內部控制與內部稽核測驗試題：銀行內部控制與內部稽核法規（一般金融類、消費金融類）#142655(50題)

115年 - [無官方正解]115 國立臺灣大學_轉學生招生考試：普通化學(A)#142644(25題)

115年 - [無官方正解]115 國立清華大學_碩士班考試入試題_生命科學暨醫學院_甲組（生物與醫學科學組）：細胞生物學#142643(39題)

115年 - [無官方正解]115 國立臺灣大學_轉學生招生考試試題：生物化學概論#142642(50題)

115年 - [無官方正解]115 國立臺灣大學_轉學生招生考試試題：普通植物學#142639(50題)

115年 - [無官方正解]115 國立臺灣大學_轉學生招生考試﹕普通生物學(A)#142637(50題)

115年 - 115 台灣聯合大學系統_學士班轉學考試_A3／A6：普通物理#142629(20題)

115年 - [無官方正解]115 國立臺灣大學_轉學生招生考試試題：普通物理學(A)#142625(10題)

12. 空間坐標系中，已知 A(3,4,5) ，請問下列選項何者正確？ (A) A 點到原點的距離為 5 (B) A 點到 x 軸的距離為√41 (C) A 點到 xy 平面的距離為 7 (D) A 點對 yz 平面的對稱點為 (3, 4, 5)

11. 擲一均勻骰子三次，若每出現一次偶數點得 5 元， 一次奇數點得 1 元，則 所得總額之期望值為多少元？ (A)10 (B)9 (C)8 (D)7

10. 三次函數\( f(x) = 2x^3 - 6x^2 + 6x - 2 \)，則 f(x) 的對稱中心(反曲點)為何？ (A)(0,0) (B)(1,1) (C)(−1,0) (D) (1,0)

(c) Let \( \bar{X}_n = (X_1 + X_2 + \dots + X_n) / n \). Find the moment generating function of \( \bar{X}_n \).

(b) Find the moment generating function of \( X_{i}, i = 1,2,\ldots,n \).

(a) Find the unknown constant \( c \).

統計學

講師：Terry Tung

簡介：Ch1 敘述統計 1. 集中趨勢（Central Tendency）用來找出資料的中心點在哪裡： 平均數（Mean）、中位數...

考前60天◆經濟學

講師：Terry Tung

簡介：高普考、初考、三四五等、國營適用！ 個經＆總經 6 大章節分類(供需、成本、市場、凱因斯、成長、貨幣) 章...

教育統計

講師：Terry Tung

簡介：國家考試考古題整理

競合

描述：重點整理

法學緒論

描述：第一節

國學常識-時間年紀

描述：時間 年紀

下列有關線型累進所得稅（linear progressive income tax）之敘述何者錯誤？ (A)平均稅率遞增 (B)邊際稅率固定 (C)邊際稅率遞增 (D)起徵點大於零

政府針對特定對象使用設施收取費用，下列何者不屬於使用規費？ (A)公共停車場之停車費 (B)發給護照、簽證收取之費用 (C)博物館門票 (D)動物園門票

35 政府針對特定對象使用設施收取費用，下列何者不屬於使用規費？ (A)公共停車場之停車費 (B)發給護照、簽證收取之費用 (C)博物館門票 (D)動物園門票

1. 陳列在收銀櫃檯的商品若是體積小具有促銷誘因，是利用顧客何種心態來誘使其購買行為？ (A)順便買 (B)貪便宜 (C)衝動性購買 (D)不買下次就買不到 。

2. 收銀機的錢箱有數個區隔空間，便於放置各式鈔票與錢幣，其功用為何？(A)便於結算 (B)便於交接班 (C)便於收錢 (D)便於找零 。

40. What could be a potential consequence of NOT upgrading to the PowerTech Pro?(A) Limited access to advanced features and functionalities(B) Increased battery life of current device(C) Improved durability of current device